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JTAG/Boundary Scan

(주)바스는 JTAG Boundary Scan Testing (BST), JTAG를 기반으로 하는 ATE System, JTAG Monitoring & Diagnostics 분야 등의 국내 최고 수준의 선진 기술을 보유하고, 고객의 시스템에 꼭 맞는 다양하고 최적화된 테스팅 시스템과 솔루션을 제공합니다.



Analyzer

독일 Goepel Electrinic GmbH사의 Boundary Scan Probe는 유저가 BSDL file 검증 작업 뿐만 아니라 디버깅 및 프로토타입 테스팅 시 유용하게 쓰이는 디바이스 입니다.

< 특징 >

  • LVTTL technology
  • Static and dynamic measurement and visualization of Low and High level as well as TriState
  • Driving of low or high level, static or as pulse; Adjustable driver current
  • External or internal (battery) power supply (Auto Power Off feature)
  • Compact handheld case with illuminated spring loaded test tip
    Over-current protection
  • Test program for the verification of JTAG/Boundary Scan ICs (BSDL check) on register and pin level included (in CASLAN)
  • Simple integration in an existing IEEE 1149.1 compliant JTAG/Boundary Scan test
  • Emulation of a Test Access Port (TAP) for examination of unknown JTAG/Boundary Scan IC implementations
  • Designed for use in laboratory (prototyping/debugging) and field service as well as repair applications
Product
Packing
Boundary Scan Probe
1. PXI I/O Modulee
2. User Manual

Boundary Scan이란?

Boundary Scan 은 테스트 기술 분야에서 가장 뛰어난 테스트 방법으로, In-Circuit-Test (ICT) 와 유사하지만, Bed-Of-Nail 아답터 없이 단지 5개의 버스 라인으로 수 천 개의 지점을 테스트 하여 잘못된 부분을 정확히 파악할 수 있습니다.


또한, Boundary Scan은 1990년도에 IEEE Std.1149.1 이라는 산업계 표준 검사 기술 방식으로 규격화된 표준으로, 기존 ICT Pin Nail 이 Chip내 에서 구성된 일종의 Digital ICT이며, 이후 IEEE 1149.4 (혼합 신호 테스트), IEEE 1149.6 (디지털 네트 워크)으로 발전/규격화되어 명실공히 아날로그/디지털의 경계를 넘나드는 혁신적 테스트 기술임이 입증되었다. 따라서, 모든 디바이스 제조사들은 Chip 생산 시 LSI 내부에 Boundary Scan Cell 이라는 고장 진단을 위한 회로를 내장하게 되었고, 그 내부 구조에 대한 Block Diagram을 보면 오른쪽 그림과 같습니다.


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