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JTAG/Boundary Scan

(주)바스는 JTAG Boundary Scan Testing (BST), JTAG를 기반으로 하는 ATE System, JTAG Monitoring & Diagnostics 분야 등의 국내 최고 수준의 선진 기술을 보유하고, 고객의 시스템에 꼭 맞는 다양하고 최적화된 테스팅 시스템과 솔루션을 제공합니다.



CION Modules (JTAG Boundary Scan low cost I/O )

독일 Goepel Electronic GmbH사의 CION Modules은 Boundary Scan 개발자용 Test Board 입니다.

CION Module /FXT96

96 channel Module with 3 CION devices, Groups of 32 bit are voltage adjustable between 1.8-5V, every channel is independent configurable to input, output, bi-directional, tri state (hot swap), UNSTRESS feature

CION Module /PCI32-64

Plug in Module for test of 32bit and 64bit PCI connectors based on 6 CION devices, I/O voltage 1.8 - 5V

CION Module /DIMM168

Plug In Module for test of DIMM168 sockets with 5 CION devices, automated voltage selection between 1.8-5V, every channel is independent configurable to input, output, bi-directional, tri state(hot swap), UNSTRESS feature, incl. test of all GND/Power pins

Product
Part No.
CION Module /FXT96
340-000
CION Module /PCI32-64
340-002
CION Module /DIMM168
340-010

Boundary Scan이란?

Boundary Scan 은 테스트 기술 분야에서 가장 뛰어난 테스트 방법으로, In-Circuit-Test (ICT) 와 유사하지만, Bed-Of-Nail 아답터 없이 단지 5개의 버스 라인으로 수 천 개의 지점을 테스트 하여 잘못된 부분을 정확히 파악할 수 있습니다.


또한, Boundary Scan은 1990년도에 IEEE Std.1149.1 이라는 산업계 표준 검사 기술 방식으로 규격화된 표준으로, 기존 ICT Pin Nail 이 Chip내 에서 구성된 일종의 Digital ICT이며, 이후 IEEE 1149.4 (혼합 신호 테스트), IEEE 1149.6 (디지털 네트 워크)으로 발전/규격화되어 명실공히 아날로그/디지털의 경계를 넘나드는 혁신적 테스트 기술임이 입증되었다. 따라서, 모든 디바이스 제조사들은 Chip 생산 시 LSI 내부에 Boundary Scan Cell 이라는 고장 진단을 위한 회로를 내장하게 되었고, 그 내부 구조에 대한 Block Diagram을 보면 오른쪽 그림과 같습니다.


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