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JTAG/Boundary Scan

(주)바스는 JTAG Boundary Scan Testing (BST), JTAG를 기반으로 하는 ATE System, JTAG Monitoring & Diagnostics 분야 등의 국내 최고 수준의 선진 기술을 보유하고, 고객의 시스템에 꼭 맞는 다양하고 최적화된 테스팅 시스템과 솔루션을 제공합니다.



Scan Booster Series

독일 Goepel Electronic GmbH사의 SCANBOOSTER는 Boundary Scan 설계용 Test Bench의 자동생성을 위한 툴 입니다. 모든 Boundary Scan 구조의 기능적 검증을 위한 벡터의 입력 및 생성을 진행시키고, 자동 검증 프로세스와 매뉴얼 에러를 지양시킴으로써, 테스트의 효율성을 더욱 더 높일 수 있습니다.

Scan Booster/PCI
Low cost JTAG/ BScan controller for PCI with 2 TAP (voltage
programmable and impedance programmable), 16MHz TCK, 32 bit dynamic PIO, C-bus, SCP bus, 8 parallel TDI sgnals
Scan Booster/USB
Low cost JTAG/ BScan controller for USB2.0 with 2 TAP (voltage
programmable, impedance programmable, Relay switched output
line per TAP), 16MHz TCK, 32 bit voltage programmable dynamic
PIO, 2 analog 10 bit I/O, 3 bit static I/O, Trigger lines, USB powered, TAP cables, PIP cable
Scan Booster/USB-FXT Low cost JTAG/ BScan controller for USB2.0 with 2 TAP, 2x TIC
extension module (differential TIC interface), 16MHz TCK, 32 bit
voltage programmable dynamic PIO, 2 analog 10 bit I/O, 3 bit
static I/O, Trigger lines, external power supply, TIC cables, PIP
cable, external differential controlled TIC necessary

< 특 징 >


Boundary Scan이란?

Boundary Scan 은 테스트 기술 분야에서 가장 뛰어난 테스트 방법으로, In-Circuit-Test (ICT) 와 유사하지만, Bed-Of-Nail 아답터 없이 단지 5개의 버스 라인으로 수 천 개의 지점을 테스트 하여 잘못된 부분을 정확히 파악할 수 있습니다.


또한, Boundary Scan은 1990년도에 IEEE? Std.1149.1 이라는 산업계 표준 검사 기술 방식으로 규격화된 표준으로, 기존 ICT Pin Nail 이 Chip내 에서 구성된 일종의 Digital ICT이며, 이후 IEEE 1149.4 (혼합 신호 테스트), IEEE 1149.6 (디지털 네트 워크)으로 발전/규격화되어 명실공히 아날로그/디지털의 경계를 넘나드는 혁신적 테스트 기술임이 입증되었다.따라서, 모든 디바이스 제조사들은? Chip 생산 시 LSI 내부에 Boundary Scan Cell 이라는 고장 진단을 위한 회로를 내장하게 되었고, 그 내부 구조에 대한 Block Diagram을 보면 오른쪽 그림과 같습니다.

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