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JTAG/Boundary Scan

(주)바스는 JTAG Boundary Scan Testing (BST), JTAG를 기반으로 하는 ATE System, JTAG Monitoring & Diagnostics 분야 등의 국내 최고 수준의 선진 기술을 보유하고, 고객의 시스템에 꼭 맞는 다양하고 최적화된 테스팅 시스템과 솔루션을 제공합니다.


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BSDL Testwriter

독일 Goepel Electronic GmbH사의 BSDL Testwriter S/W는 Boundary Scan 설계용 Test Bench의 자동생성을 위한 툴 입니다. 모든 Boundary Scan 구조의 기능적 검증을 위한 벡터의 입력 및 생성을 진행시키고, 자동 검증 프로세스와 매뉴얼 에러를 지양시킴으로써, 테스트의 효율성을 더욱 더 높일 수 있습니다.

BSDL Testwriter for SOLARIS
BSDL Testbench Generator with support for 1149.1 and optional
1149.6 capability, NL License for SOLARIS incl. one vector output of choice (Verilog, VHDL, STIL), one year maintenance contract,
English user manual
BSDL Testwriter for Windows
BSDL Testbench Generator with support for 1149.1 and optional
1149.6 capability, NL License for Windows 2K/XP incl. one vector
output of choice (Verilog, VHDL, STIL), one year maintenance
contract, English user manual

< 특 징 >

  • IEEE Std 1149.1 표준에 부합하는 Boundary Scan 설계를 위한 자동 Test Bench generator
  • input 으로써의 스탠더드 BSDL 파일 진행
  • BSDL files의 구문배열과 의미 체크
  • Verilog format의 test bench 생성 - 모든 기본 Simulator에 유용.
  • Plug-in micro architecture (PMA) 기반의 개방형 구조 - 확장 용이
  • STIL (IEEE Std 1450) output 은 IC test+ 를 위한 test vectors로써 사용되는 패턴을 허용.
  • Windows, Sun Solaris 2.6 이상에서 동작

Boundary Scan이란?

Boundary Scan 은 테스트 기술 분야에서 가장 뛰어난 테스트 방법으로, In-Circuit-Test (ICT) 와 유사하지만, Bed-Of-Nail 아답터 없이 단지 5개의 버스 라인으로 수 천 개의 지점을 테스트 하여 잘못된 부분을 정확히 파악할 수 있습니다.


또한, Boundary Scan은 1990년도에 IEEE? Std.1149.1 이라는 산업계 표준 검사 기술 방식으로 규격화된 표준으로, 기존 ICT Pin Nail 이 Chip내 에서 구성된 일종의 Digital ICT이며, 이후 IEEE 1149.4 (혼합 신호 테스트), IEEE 1149.6 (디지털 네트 워크)으로 발전/규격화되어 명실공히 아날로그/디지털의 경계를 넘나드는 혁신적 테스트 기술임이 입증되었다.따라서, 모든 디바이스 제조사들은? Chip 생산 시 LSI 내부에 Boundary Scan Cell 이라는 고장 진단을 위한 회로를 내장하게 되었고, 그 내부 구조에 대한 Block Diagram을 보면 오른쪽 그림과 같습니다.


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